3M™ 黑色導電型PC料帶 3200R Series

  • 3M ID B5005425000

超小的口袋孔,可幫助 防止焊球陷在口袋孔中

3M 光學精密製程可產出小於 0.01 mm 的超小口袋孔

減小口袋開口半徑(元件厚度需≤0.15mm)

查看更多詳細訊息
常用資源
技術文件 (PDF, 240KB)

詳細訊息

產品亮點
  • 超小的口袋孔,可幫助 防止焊球陷在口袋孔中
  • 3M 光學精密製程可產出小於 0.01 mm 的超小口袋孔
  • 減小口袋開口半徑(元件厚度需≤0.15mm)
  • 3M製程可以大大減少可能污染IC晶元的毛邊產生
  • 最大限度地減少元件滑動和裂損,最大限度地提高客戶產量
  • 獨特的凸起平台設計有助於防止元件傾斜和錯位
  • 載帶表面電阻約為10^5 ohms/sq,為您提供抗靜電解決方案
  • 可搭配3M™ 透明導電級常溫自黏帶(PSA)以及3M™ 透明雙面抗靜電熱封帶(HAA)

3M™ 聚碳酸酯載體 3200R 系列是小型薄元件封裝的理想選擇,無需擔心晶片滑動和焊球沾黏等問題。精密製程可產出超小(<0.1mm)口袋孔,這是使用當前傳統的機械沖孔方法無法實現的。操作員可以保持最佳真空壓力 - 防止焊球粘在口袋孔中。這種載帶還允許極小的開口半徑控制和精確的口袋公差,有助於減少晶元旋轉、傾斜和滑動以及對半導體晶元的損壞。

  • 半導體運輸和封裝元件的照片

    更小的口袋孔與更小的倒角半徑控制

    對於越來越小的半導體元器件,3M™聚碳酸酯載帶3200 R具有迷你的載帶口袋孔,倒角半徑控制<0.1 mm。


  • 半導體元件的組裝

    光學精密工藝

    口袋孔由3M光學精密工藝製造,相比於當前常規機械沖孔方法,可以實現更小的口袋孔。這一過程也減少了潛在污染IC晶片的外界雜質的數量,也幾乎消除了可能導致載帶污染缺陷的碎片。

  • 顯示倒角半徑控制優勢的插圖

    倒角半徑控制

    口袋倒模角半徑控制小於0.1 mm/0.12 mm,口袋公差低至0.02,3M™ 聚碳酸酯載帶3000R有助於減少較薄、超薄和超小型元器件在運輸過程中發生傾斜、滑移、開裂等事故。

  • Video still showing pocket tolerance.

    精確的口袋公差

    3M™聚碳酸酯載帶3200 R系列的表面抬高設計將載帶和蓋帶之間的間隙最小化,且減少頂部口袋邊緣的寬度和曲度。口袋公差±0.03 mm和低至±0.02 mm有助於最大限度地減少口袋變化,保護超薄或超小型元器件,防止其傾斜或滑移。

規格

相關資源

聯繫3M專家

感謝您對於3M半導體產業解決方案的興趣!請填寫以下表單詢問產品或應用領域相關問題,我們將盡快與您聯繫。

  • *為必填項目

  •  
  • 3M尊重您的個人隱私,我們將不會主動蒐集您的個人資料。 3M及其授權的第三方將使用您在線上表單中所提供的資訊,根據我們的網路隱私權政策 及 個人資料運用告知聲明發送給您訂閱內容,其中可能包括產品訊息、促銷和提供服務等。如您不想收到前述產品訊息、促銷、服務訊息,可選擇取消訂閱。

  • 提醒您:您所提供的資訊(包含原始郵件內容與後續回覆)可能會經由美國的網站伺服器系統傳輸與保存。如果您不同意您的個人資料經由上述方法傳輸,請勿使用此線上表單功能。

  • 提交

謝謝您,已收到您的申請!

感謝您對於3M半導體產業解決方案的興趣,3M同仁將會檢視您的需求,與您聯繫後續支援。

>很抱歉!

目前系統異常請稍後再試...

同類產品

應用領域 電子元件包裝
材料成份 聚碳酸酯 PC
產品用途 Bare Die, ICs, LED, WLCSP, 分立元件, 無源元件
產品顏色 黑色
表面阻力 1.0x10⁴ Ω - 1.0x10⁸ Ω