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3M™ 聚碳酸酯載體 3200R 系列是小型薄元件封裝的理想選擇,無需擔心晶片滑動和焊球沾黏等問題。精密製程可產出超小(<0.1mm)口袋孔,這是使用當前傳統的機械沖孔方法無法實現的。操作員可以保持最佳真空壓力 - 防止焊球粘在口袋孔中。這種載帶還允許極小的開口半徑控制和精確的口袋公差,有助於減少晶元旋轉、傾斜和滑動以及對半導體晶元的損壞。
對於越來越小的半導體元器件,3M™聚碳酸酯載帶3200 R具有迷你的載帶口袋孔,倒角半徑控制<0.1 mm。
口袋孔由3M光學精密工藝製造,相比於當前常規機械沖孔方法,可以實現更小的口袋孔。這一過程也減少了潛在污染IC晶片的外界雜質的數量,也幾乎消除了可能導致載帶污染缺陷的碎片。
口袋倒模角半徑控制小於0.1 mm/0.12 mm,口袋公差低至0.02,3M™ 聚碳酸酯載帶3000R有助於減少較薄、超薄和超小型元器件在運輸過程中發生傾斜、滑移、開裂等事故。
3M™聚碳酸酯載帶3200 R系列的表面抬高設計將載帶和蓋帶之間的間隙最小化,且減少頂部口袋邊緣的寬度和曲度。口袋公差±0.03 mm和低至±0.02 mm有助於最大限度地減少口袋變化,保護超薄或超小型元器件,防止其傾斜或滑移。
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