3M™ CMP材料

大的半導體晶圓上的CPU電路

重新定義CMP

3M™ CMP材料致力於説明全球的半導體製造商滿足工藝需求。

與3M專家聯繫

用於半導體製造的CMP解決方案

雲端運算、人工智慧(AI)、大數據技術、5G、物聯網(IoT)、移動性和自動化應用等新興領域的快速成長,正在推動對最新半導體技術日益增長的需求。為了驅動這些應用,先進的半導體製造技術不斷突破可能的極限。新的元件架構、新穎的材料和複雜的整合方案要求製程強度和複雜性不斷提升。化學機械平坦化(Chemical Mechanical Planarization, CMP)在實現這些針對成熟和先進製成技術的整合製程中,發揮著關鍵作用。

在 3M,我們正透過創新的 CMP 拋光墊拋光墊修整器以及拋光墊修整器塗層來重新定義化學機械平坦化(CMP)工藝。作為 CMP 市場中擁有超過 25 年經驗的可靠供應商,我們致力於解決一系列的製成需求,包括提高一致性、降低變異性、改善平坦化性能、控制金屬污染和缺陷率、提高良率以及延長耗材使用壽命。

  • 什麼是化學機械平坦化(CMP)?

    化學機械平坦化(或化學機械研磨)是指在半導體製程中,晶圓需經過反覆拋光及平坦化處理,以確保晶圓表面平整,沒有外來物質,然後再進行後續的每一層的平坦化工藝。 這種CMP工藝使用有紋理的,軟的或者硬的CMP研磨墊、研磨盤及專用研磨液的組合來研磨晶圓。

    由於CMP研磨墊的使用時間較長,必須定期用研磨盤進行修整,以保持穩定的研磨性能。 研磨盤可由硬質或軟質材料製成,可以設計成各種尺寸、質地及功能,以便修整不同類型的研磨墊。 為了給先進節點提供所需的CMP性能,對研磨墊、研磨液及研磨盤進行綜合優化的要求會愈加提高。


致力於改善CMP工藝的性能——讓您安心無憂

在不犧牲品質、性能一致性和良率的情況下,最大限度地提高晶圓產量。

無論是傳統的半導體製程,還是最新的先進製程,3M™ CMP材料都已準備就緒。 3M在全球擁有50多個技術平臺,通過獨有的微複製技術和表面改性、成型和粘合方面的專業知識,開發出高品質、性能一致的CMP研磨盤。 這種對一致性和定製化的追求有助於您更好地管控CMP工藝流程,並擁有更多的成本優勢。 3M擁有全球各地的實驗平臺及強勁的製造能力,方便貴司可以及時獲得專家團隊的技術支援,並且享受在地樣品測試和產品反覆運算升級的便利。

  • 三個相同的晶圓片圖示,代表生產的一致性
    工藝一致性
    • 高品質的研磨材料
    • 減小誤差
    • 提高穩定性和可預測性
  • 晶圓片的圖示旁邊的清單表示定製
    產品定製化
    • 解決方案定製化
    • 性能參數可調
  • 晶圓片和望遠鏡的控制圖示
    性能控制
    • 更少的金屬污染風險
    • 降低不良率
    • 提高產能
  • 性能穩定,使用壽命超長,減少機器停機時間
    控制成本
    • 性能穩定
    • 超長的使用壽命
    • 減少機器停機時間
  • *此資訊是基於3M實驗室進行的測試,可供參考的3M CMP材料樣本量有限。 在半導體製程中,可能會存在許多超出3M可控範圍的因素,將會影響3M CMP材料的性能和使用。 欲瞭解更多3M CMP研磨墊或3M CMP研磨盤的具體性能和產品優勢,或申請樣品進行技術評估,請查閱3M產品目錄或聯繫3M專家。

半導體製程中的CMP創新

創新是3M的核心追求。 從CMP研磨墊的技術突破到CMP研磨盤的升級,歷史表明,我們與客戶合作得越多,我們就更多地超越您的期待。

1998 年至今 3M 在 CMP 技術上的創新時間軸
  • 這些先進的研磨盤可以説明您實現性能一致的目標,減少金屬污染風險,並説明您提供高平坦化效率和低缺陷率。

  • 探索 3M 的 CMP 拋光墊修整解決方案,包括鑽石修整器、無金屬刷子、先進的 3M™ Trizact™ 拋光墊修整器與 3M™ 彈性拋光墊修整器,以及創新的抗金屬溶出塗層。

準備好重新定義您的CMP工藝了嗎?

3M銷售代表及技術團隊竭誠為您服務。

關閉  

感謝您對於3M半導體產業解決方案的興趣!請填寫以下表單詢問產品或應用領域相關問題,我們將盡快與您聯繫。